Recherche de méthodes pour du pattern based alignment
Bonjour à tous.
Je suis actuellement en train de comparer des bibliothèques de traitement d'images dans le cadre de mon travail.
Parmi ces bibliothèques, je dois étudier opencv. Le but actuel est d'isoler une portion de l'image utile (dans mon domaine ce sont des images de grande taille (5Mpixels), représentant des circuits imprimés très petits (MEMS)) , d' extraire les caractéristiques utiles de l'objet que l'on souhaite détecter (contours fins et grossiers par exemple d'un micro-composant) et de rechercher cette portion d'image et le composant dont on a extrait les caractéristiques dans une image cible ayant subi des changements de type rotation, changement d'échelle par rapport à l'image référence.
Quelqu'un aurait il une idée de fonctions présentes dans cette bibliothèque et permettant ce type d'application? J'ai parcouru les différents tutoriels sans grand résultat. Je n'ai pas une formation de programmeur mais une formation en traitement d'images. Je sais programmer en c++ mais je pense avoir un niveau que l'on peut considérer novice.
Merci d'avance à tous pour vos réponses